Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Физическая инженерия поверхности
→
Физическая инженерия поверхности, 2014 (том 12)
→
Физическая инженерия поверхности, 2014, № 2
→
Перегляд Физическая инженерия поверхности, 2014, № 2 за датою випуску

Перегляд Физическая инженерия поверхности, 2014, № 2 за датою випуску

Результати 1-20 з 25

Наступна сторінка

Измерение температурной зависимости факторов эффективности поглощения платинового болометра на длине волны излучения 1,06 мкм

Погорелов, С.В.; Сафронов, Б.В.; Балкашин, В.П.; Приз, И.А. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Обоснована и экспериментально проверена методика измерения температурной зависимости факторов эффективности поглощения тонкопроволочных платиновых болометров для Е- и Н- поляризаций излучения с учётом неравномерности ...
Вплив інтеркалювання нікелем на властивості шаруватих кристалів InSe

Боледзюк, В.Б.; Ковалюк, З.Д.; Кудринський, З.Р.; Кушнір, Б.В.; Литвин, О.С.; Шевченко, А.Д. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Досліджено вплив впровадження іонів Ni²⁺ на електричні та магнітні властивості кристалів селеніду індію. Показано, що в інтеркалатах Ni₀,₁₅InSe, які отримані впровадженням нікелю при постійному магнітному полі, формуються ...
Сублинейные обратные ВАХ толстых пленочных структур на основе CdTe

Мирсагатов, Ш.А.; Ачилов, А.С.; Заверюхин, Б.Н. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Создана пленочная структура с базой из p-CdTe (w = 120 μm), имеющей с двух сторон МОП-элементы: фронтальный Al-n-Al₂O₃-p-CdTe и тыловой Mo-n-MoO3-p-CdTe. При включении такой структуры в обратном направлении тока появляется ...
Розподіл з глибиною параметрів магнітної мікроструктури в епітаксійній плівці залізо-ітрієвого гранату

Коцюбинський, В.О.; Пилипів, В.М.; Остафійчук, Б.К.; Федорів, В.Д.; Ткачук, В.М.; Гарпуль, О.З. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Методом конверсійної електронної месбауерівської спектроскопії, поєднаним з хімічним травленням, досліджено розподіл параметрів магнітної мікроструктури з товщиною приповерхневого шару епітаксійних плівок залізо-ітрієвого ...
Исследование кинетики образования фаз в системе MoSi₂-W в условиях нагрева при температурах 1500-1800 °С

Глушко, П.И.; Журавлёв, А.Ю.; Семёнов, Н.А.; Хованский, Н.А.; Широков, Б.М.; Шиян, А.В.; Щербакова, В.В. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Исследована кинетика перераспределения фаз в системе MoSi₂-W при 1500—1800 °С. Определены кинетические параметры роста низших силицидов (Mo, W)5Si₃ и уменьшение слоя высшего силицида MoSi₂ в зависимости от температуры ...
Дослідження взаємодії літію з n-InSe: спектри імпедансу та рентгенівської дифракції

Гаврилюк, С.В.; Ковалюк, З.Д.; Мінтянський, І.В.; Савицький, П.І. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Методами імпедансної спектроскопії та рентгенівської дифракції досліджено систему Li/LiBF₄ + γ-БЛ/InSe. Для різних стадій розряду представлені результати вимірювання кривих Найквіста та дифракційних спектрів. Проведено ...
Механические свойства наноструктурированных покрытий (Ti, Al)N и (Ti, Cr)N, полученные методом вакуумно-дугового осаждения

Гранкин, С.С.; Немченко, У.С.; Новиков, В.Ю.; Соболь, О.В.; Маликов, Л.В.; Плиев, С.И. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Изучены физико-механические характеристики покрытий (Ti, Al)N и (Ti, Cr)N, полученные методом вакуумно-дугового осаждения. Для сформированных покрытий значение твердости составило: (Ti, Al)N – Н = 30,6 ГПа; (Ti, Cr)N — без ...
Тематические направления

Автор відсутній (Физическая инженерия поверхности, 2014)
Выходные данные

Автор відсутній (Физическая инженерия поверхности, 2014)
Титульная страница и содержание

Автор відсутній (Физическая инженерия поверхности, 2014)
Зонная перекристаллизация тантала

Пилипенко, Н.Н.; Дробышевская, А.А. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Изложены результаты исследования процесса рафинирования тантала методом зонной пере-кристаллизации с применением высоковакуумной техники. Очистка тантала осуществлялась зонной плавкой в высоком вакууме, среде кислорода и ...
Ультразвукова модифікація електродних матеріалів суперконденсаторів

Балабан, О.В. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Методами імпедансної спектроскопії та гальваностатичного заряду-розряду досліджено електродні матеріали на основі вугілля березового (ВБ) та лляного (ВЛ), а також нанокарбону (НК). Доведено, що ультразвукове опромінення ...
Формування та властивості МСМ-41 з інкапсульованим в його пори бета-циклодекстрином, FeSO₄ та їх кавітатом

Біщанюк, Т.М.; Григорчак, І.І. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Представлено результати досліджень характеристик пористої кремнеземної матриці МСМ-41 з інкапсульованим в її пори β-циклодекстрином (β-СD) в квітандному та кавітатному (з FeSO₄) cтані. Встановлено характер змін частотної ...
Вплив термічного відпалу на властивості моноселеніду індію та галію, легованого кобальтом і селенідом ванадію

Ковалюк, З.Д.; Шевчик, В.В.; Боледзюк, В.Б.; Нетяга, В.В. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Досліджено частотні спектри імпедансу та діелектричної проникності легованих кобальтом та селенідом ванадію кристалів InSe та GaSe. Встановлено сильну частотну залежність діелектричної проникності для легованих кристалів ...
Влияние ультразвукового облучения на свойства инжекционного фотоприемника на основе pSi-nCdS-n⁺CdS - структуры на плотности поверхностных состояний pSi-nCdS – гетероперехода

Сапаев, И.Б.; Мирсагатов, Ш.А. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Определено распределение плотности поверхностных состояний в зависимости от величины поверхностного потенциала на гетерогранице nCdS/Si(p). Установлено, что ультразвуковое облучение уменьшает плотности поверхностных состояний ...
Вплив методу приготуванння на перколяційну поведінку систем на основі поліетиленоксиду та вуглецевих нанотрубок

Лисенков, Е.А.; Яковлев, Ю.В.; Клепко, В.В. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Використовуючи методи імпедансної спектроскопії та оптичної мікроскопії проведено дослідження мікроструктури та електричних властивостей систем на основі поліетиленоксиду та вуглецевих нанотрубок, виготовлених різними ...
Легирование кремнием и фотоэлектрические свойства тонких плёнок полуторного сульфида тулия

Джабуа, З.У.; Тетелошвили, М.Г.; Гигинеишвили, А.В. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Проведено легирование тонких плёнок θ-Tm2S3 атомами Si. В области температур 90—500 К измерены температурные зависимости удельного электросопротивления и термо ЭДС легированных плёнок. Исследованы спектральные зависимости ...
Узельная миграция в двумерной гексагональной наноструктуре с протяженными искажениями

Долгов, А.С.; Жабчик, Ю.Л. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Изучается миграция примесных атомов в двумерной гексагональной сетке, моделирующей графен или родственные наноструктуры. Рассматриваются различные варианты позиционирования субъектов миграции, совместимые с гексагональной ...
Зміна гранулометричного складу та гідрофільності активованого вугілля після УЗ опромінення у докавітаційному режимі

Бордун, І.М.; Корецький, Р.М.; Пташник, В.В.; Садова, М.М. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Показано ефективність докавітаційного ультразвукового (УЗ) опромінення для подрібнення дрібнодисперсних вугільних матеріалів. Результати подрібнення залежать від наданої енергії водно-вугільній суспензії та процентного ...
Структурні особливості формування азотовмісних нанопористих вуглецевих матеріалів

Кузишин, М.М.; Остафійчук, Б.К.; Будзуляк, І.М.; Рачій, Б.І.; Кулик, Ю.О.; Пилипів, В.М. (Физическая инженерия поверхности, 2014)

Методами малокутового розсіювання рентгенівських променів і сорбції азоту при температурі –196 °С досліджено структуру нанопористого вуглецю, отриманого карбонізацією рослинної сировини, та вплив на дану структуру хімічної ...

Результати 1-20 з 25

Наступна сторінка

Пошук

Розширений пошук

Перегляд

Вся бібліотека
Колекція

Перегляд Физическая инженерия поверхности, 2014, № 2 за датою випуску

Репозиторій DSpace/Manakin

Перегляд Физическая инженерия поверхности, 2014, № 2 за датою випуску

Пошук

Перегляд

Вся бібліотека

Колекція

Мій обліковий запис