Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Перегляд Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002, № 2 за датою випуску

Репозиторій DSpace/Manakin

Перегляд Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002, № 2 за датою випуску

Сортувати за: Порядок: Результатів:

  • Статистическая оценка трудозатрат изготовления коммутационных плат радиоэлектронных средств 
    Ефименко, А.А.; Голубев, А.В.; Кондрашов, А.С. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Проанализированы основные факторы, влияющие на трудоемкость производства коммутационных плат. Приводятся полученные статистические зависимости трудоемкости изготовления коммутационных плат, которые могут найти применение ...
  • Генераторы с электромеханическими преобразователями на аналогах негатронов 
    Негоденко, О.Н.; Воронин, В.А.; Заруба, Д.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Определены условия, при которых генераторы с электромеханическими преобразователями на аналогах негатронов не чувствительны к изменению механической нагрузки на преобразователь. Показано, что генераторы с пьезопреобразователями ...
  • Методика разработки и характеристики автогенератора класса Е 
    Крыжановский, В.Г.; Рудякова, А.Н.; Чернов, Д.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Рассчитан и экспериментально исследован автогенератор с выходной мощностью 1 Вт и КПД 86% на частоте 800 кГц. Особенностью автогенератора является низкое напряжение питания и слабая зависимость частоты генерации от напряжения ...
  • Расчет упругих механических напряжений в неоднородных полупроводниковых структурах 
    Касимов, Ф.Д.; Лютфалибекова, А.Э. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Проведен математический расчет упругих механических напряжений в двухслойных структурах с отличающимися упругими постоянными пленки и подложки. Выведена формула, показывающая, что возникающие в пленке механические напряжения ...
  • Особенности разработки цифровых волоконно-оптических модулей 
    Мержвинский, А.А.; Осинский, В.И.; Палагин, А.В.; Вербицкий, В.Г.; Воронько, А.А.; Мержвинский, П.А.; Белаш, П.В.; Сибрин, Ю.И.; Остапчук, С.П. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Приведены обобщенная схема цифрового канала, выделены базовые компоненты модулей, рассмотрены механизмы возникновения ошибок и методы их снижения, определены функции компонентов, контролируемые параметры, цели проектирования ...
  • Акустооптическое управление потоком данных оптических запоминающих устройств с побитовым представлением информации 
    Данилов, В.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Предложены физические основы проектирования и метод проектирования акустооптических затворов как устройств управления потоком данных при записи-считывании информации в системах оптической памяти с побитовым представлением ...
  • Корреляционная пассивная звуковая локация 
    Тарасов, В.А.; Кропачев, Д.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Разработаны алгоритмы корреляционной пассивной локации звуковых источников. Разработанные алгоритмы стали основой для практической реализации системы пассивной звуковой локации. Проведенные натурные испытания системы ...
  • Исследование методов построения вычислительных устройств на основе FPGA 
    Жабин, В.И.; Ковалев, Н.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Рассматриваются методы построения вычислительных устройств (ВУ) на базе FPGA с использованием параллельных и квазипараллельных операционных блоков. Исследуются характеристики их ресурсоемкости, максимального быстродействия ...
  • Многокристальные модули на анодированной алюминиевой подложке 
    Сокол, В.А.; Воробьева, А.И. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Представлены результаты исследований процесса локального формирования пористого анодного оксида алюминия и его сплавов. Разработан технологический процесс формирования защитной маски, устойчивой при толстослойном ...
  • Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников 
    Васильев, В.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Комплекс позволяет исследовать оптические свойства полупроводниковых материалов, в частности, ширину запрещенной зоны, энергию ионизации примесей. В его основу положен метод оптоемкостной спектроскопии. Метод является ...
  • Технология изготовления лазерных красителей для диапазона 472-600 нм 
    Кругленко, В.П.; Марончук, И.Е.; Повстяной, М.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Предложена рецептура и технология изготовления новых лазерных красителей класса имитринов, эффективно работающих в желто-зеленом спектральном диапазоне при лазерном возбуждении. Приводятся экспериментальные данные о наиболее ...
  • Один из механизмов деградации микроэлектромеханических структур датчиков давления 
    Адарчин, С.А.; Кужненков, А.С.; Кожитов, Л.В.; Косушкин, В.Г. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Установлен механизм деградации и возникновения отказов микроэлектромеханических структур датчиков давления. Предложена математическая модель изменения величины температурного гистерезиса выходного сигнала датчиков, установлена ...
  • Особенности разработки датчиков давления на ПАВ для АЭС 
    Лепих, Я.И.; Лопушенко, В.К.; Черняк, Н.Г.; Николаенко, Ю.Е. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Рассмотрены особенности проектирование датчиков давления с первичным преобразователем на поверхностных акустических волнах для АЭС. Описаны структурная схема и конструкция датчика. Проводится анализ функциональной схемы ...
  • Размерно-геометрические параметры моделей микроструктуры толстых резистивных пленок 
    Стерхова, А.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Проанализированы сходства и различия размерно-геометрических параметров моделей микроструктуры серебро-палладиевых толстопленочных резисторов (ТПР). Впервые по структурной модели металлических кластеров и кластерной модели ...

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис