Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Effect of oxide-semiconductor interface traps on low-temperature operation of MOSFETs

Репозиторій DSpace/Manakin

Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис