Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2004, том 7
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2004, № 3
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties
Інший ID:
PACS: 68.55.Jk, 29.40.Mc
Посилання:
Structural dependence of CsI(Tl) film scintillation properties / A. Ananenko, A. Fedorov, A. Lebedinsky, P. Mateychenko, V. Tarasov, Yu. Vidaj // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 297-300. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
Дата:
2004
Переглядів:
774
Завантажень:
652
Анотація:
Scintillating CsI(Tl) films were obtained by vacuum deposition on single crystalline LiF substrates and non-orienting glass substrates. Their structure and morphology were examined by X-ray diffraction and scanning electron microscopy. Scintillation properties of films dependent on their structure are discussed.
