Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Investigation of the optical and acoustical phonon modes in Si₁₋xGex QD SLs
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003, том 6
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003, № 2
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Investigation of the optical and acoustical phonon modes in Si₁₋xGex QD SLs
Інший ID:
PACS: 63.22.+m, 68.37.Ps, 68.65.Hb, 72.10.Di
Посилання:
Investigation of the optical and acoustical phonon modes in Si₁₋xGex QD SLs / V.N. Dzhagan, Z.F. Krasil'nik, P.M. Lytvyn, A.V. Novikov, M.Ya. Valakh, V.O. Yukhymchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 2. — С. 164-168. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.
Дата:
2003
Переглядів:
717
Завантажень:
509
Анотація:
Single- and multilayer structures with Si₁₋xGex nanoislands have been investigated using the Raman scattering technique. The values of the mechanical strain and composition were determined in the islands of the both structures. For multilayer structure a low-frequency Raman spectrum was obtained due to the scattering on folded acoustical phonons. The experimental values of the peaks are compared with those derived theoretically.
