ЗМІСТ

Титульные страницы и содержание

Демедюк А.В.
Состояние и проблемы развития радиоэлектронной отрасли Украины

Иванова И.В.
Анализ методов синдромного декодирования кодов Рида-Соломона

Яцуненко А.Г.
Принципиально новый подход к изготовлению СВЧ-элементов и узлов систем связи и навигации

Колежук К.В., Комащенко В.Н., Ярошенко Н.В., Шереметова Г.И., Майстренко А.С.
Экспрессное измерение мощности ультрафиолетового излучения в спектральных диапазонах УФ-А и УФ-В+С

Шарапов В.М., Мусиенко М.П.
Новое поколение пьезокерамических датчиков физических величин

Шварц Ю.М., Яганов П.А., Дзюба В.Г.
Нейросетевая аппроксимация термометрической характеристики диодного сенсора

Кушниренко В.В., Нинидзе Г.К., Павлюк С.П., Коноваленко Л.Д.
Исследование кремниевых диффузионных резисторов при протекании импульса тока большой плотности

Ёдгорова Д.М., Каримов А.В.
Определение характеристик двухбарьерных фотодиодных структур с металло­полу­проводниковыми переходами

Николаенко Ю.Е.
Аппаратное построение высокопроизводительных вычислительных систем с повышенной эффективностью теплоотвода

Белянин А.Ф., Самойлович М.И., Житковский В.Д., Каменева А.Л.
Ударостойкие защитные пленочные покрытия на основе AlN в электронной технике

Баранов В.В.
Технологические предпосылки создания МОП-структур с малыми проектными нормами

Ковалюк З.Д., Катеринчук В.Н., Политанская О.А., Сидор О.Н.
Влияние гамма-облучения на фотоэлектрические параметры InSe-гетероструктур

Головко М.И., Гончаренко Ю.В., Горобец В.Н., Зотов С.М., Кивва Ф.В., Гутник В.Г., Говорищев А.И.
Установка для регенерации сорбентов в электромагнитном поле

Рогов Р.В., Мельничук С.В, Воробец Г.И.
Сетевая система контроля технологического процесса выращивания полупроводниковых кристаллов и тонких пленок

Сольский И.М., Сугак Д.Ю., Габа В.М.
Получение оптически однородных монокристаллов ниобата лития больших размеров

Гадзаман И.В., Мруз О.Я., Шпотюк О.И., Брунец И.М.
Зависимость свойств толстопленочных терморезисторов от состава базовой шпинели

Новые книги
В портфеле редакции

*****
Выставки. Конференции