Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2008, том 11
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2008, № 2
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
Інший ID:
PACS 77.80.Fm, 77.65.-j, 68.37.-d
Посилання:
The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 171-177. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
Підтримка:
Author is grateful to Academician, Prof.
S.V. Svechnikov (NAS of Ukraine) and Dr. S.V. Kalinin
(Oak Ridge National Laboratory) for valuable remarks.
Дата:
2008
Переглядів:
529
Завантажень:
395
Анотація:
The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force
Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived.
The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.
