Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения

dc.contributor.author	Белоус, А.И.
dc.contributor.author	Емельянов, В.А.
dc.contributor.author	Ефименко, С.А.
dc.contributor.author	Прибыльский, А.В.
dc.date.accessioned	2014-11-15T16:37:48Z
dc.date.available	2014-11-15T16:37:48Z
dc.date.issued	2001
dc.identifier.citation	Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70874
dc.description.abstract	Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Технология производства	uk_UA
dc.title	Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	621.382