Рассмотрена эволюционная задача со свободной границей для стационарной линейной системы теории упругости, возникающая при исследовании тонких пленочных покрытий в микроэлектронных устройствах. Доказана ее разрешимость на произвольном интервале времени при условии, что начальные данные достаточно близки к стационарному решению.
We consider an evolution free-boundary problem for a stationary linear system of the theory of elasticity encountered in the investigation of solid thin films in microelectronic devices. Its solvability is proved on an arbitrary time interval under the condition that the initial data are sufficiently close to the stationary solution.