Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
Інші назви:
Геттерування домiшкiв та дефектiв у системнiй технологiї мiкроелектронiки ВIС
Impurities and defects gettering in system technology of LSIC microelectronics
Impurities and defects gettering in system technology of LSIC microelectronics
Тема:
Депонированные рукописи
Посилання:
Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 2. — С. 39. — рос.
Дата:
1998
Переглядів:
745
Завантажень:
272
