XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства
→
Functional Materials
→
Functional Materials, 2011, том 18
→
Functional Materials, 2011, № 2
→
Переглянути статтю

XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

Tkachenko, V.F. ; Lukienko, O.A. ; Budnikov, A.T. ; Vovk, E.A. ; Krivonogov, S.I. ; Dan`ko, A.Ya.

Інші назви: Рентгендифрактометричні дослідження приповерхневих шарів підкладок з сапфіру з кристалографічною орієнтацією <1012>

Тема: Characterization and properties

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135460

Посилання: XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Дата: 2011

Завантажень: 393