XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

dc.contributor.author	Tkachenko, V.F.
dc.contributor.author	Lukienko, O.A.
dc.contributor.author	Budnikov, A.T.
dc.contributor.author	Vovk, E.A.
dc.contributor.author	Krivonogov, S.I.
dc.contributor.author	Dan`ko, A.Ya.
dc.date.accessioned	2018-06-15T11:22:12Z
dc.date.available	2018-06-15T11:22:12Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.	uk_UA
dc.identifier.issn	1027-5495
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135460
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	НТК «Інститут монокристалів» НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Functional Materials
dc.subject	Characterization and properties	uk_UA
dc.title	XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation	uk_UA
dc.title.alternative	Рентгендифрактометричні дослідження приповерхневих шарів підкладок з сапфіру з кристалографічною орієнтацією <1012>	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA