X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства
→
Functional Materials
→
Functional Materials, 2010, том 17
→
Functional Materials, 2010, № 1
→
Переглянути статтю

X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector

Mikhailov, I.F. ; Baturin, A.A. ; Fomina, L.P.

Інші назви: Рентгенофлуоресцентне визначення "слідів" домішок із застосуванням вторинного випромінювача та твердотільного детектора

Тема: Technology

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134203

Посилання: X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.

Дата: 2010

Завантажень: 201