Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Mikhailov, I.F.
dc.contributor.author Baturin, A.A.
dc.contributor.author Fomina, L.P.
dc.date.accessioned 2018-06-12T18:36:18Z
dc.date.available 2018-06-12T18:36:18Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1027-5495
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134203
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Functional Materials
dc.subject Technology uk_UA
dc.title X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector uk_UA
dc.title.alternative Рентгенофлуоресцентне визначення "слідів" домішок із застосуванням вторинного випромінювача та твердотільного детектора uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис