Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2016, том 19
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2016, № 2
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
Інший ID:
DOI: 10.15407/spqeo19.02.169
PACS 02.70.Uu, 42.79.-e, 78.20.Ci, 78.35.+c
PACS 02.70.Uu, 42.79.-e, 78.20.Ci, 78.35.+c
Посилання:
New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements / A.A. Manko, G.S. Svechnikov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 2. — С. 169-172. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
Дата:
2016
Переглядів:
792
Завантажень:
445
New method for estimating the refractive index of optical materials in spectrally selective elements
Анотація:
A numerical simulation of the scattering indicatrix in optical spectral-selective cylindrical form elements has been performed. As it follows from the results of the calculations, the shape of the scattering indicatrix of these elements is unambiguously determined by the refractive index of material from which they are made. Location of angular peaks in the indicatrix in combination with its shape allows to estimate the refractive index with sufficiently high degree of accuracy.
