The method of measurement and automated test probe station for the study of the temperature dependence of the leakage current and energy resolution of single-channel planar silicon detectors (PSD) was created. Energy resolution and leakage current of PSD with different initial (at room temperature) energy resolution in the temperature range from -30° C to 60° C was measured. Method allows to make the PSD selection for the detector systems with the possibility of use at elevated temperatures.
Розроблена методика вимiрювань i створенi автоматизованi стенди для дослiдження температурної залежностi струмiв витоку та енергетичної роздiльної здатностi одноканальных планарних кремнiєвих детекторiв (ПКД). В дiапазонi температур −30° C до +60° C проведено вимiрювання енергетичної роздiльної здатностi та струмiв витоку ПКД з рiзними початковими (при кiмнатнiй температурi) енергетичними роздiльними здатностями. Методика дозволяє проводити вiдбiр ПКД для детектуючих систем, працюючих при пiдвищених температурах.
Разработана методика измерений и созданы автоматизированные стенды для исследования температурной зависимости энергетического разрешения и токов утечки одноканальных планарных кремниевых детекторов (ПКД). В диапазоне температур −30° C до +60° C проведено измерение энергетического разрешения и токов утечки ПКД с различным начальным (при комнатной температуре) энергетическим разрешением. Методика позволяет производить отбор ПКД для детектирующих систем, работающих при повышенных температурах.