Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
New possibility of retrospective EPR dosimetry
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, том 3
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, № 2
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
New possibility of retrospective EPR dosimetry
Інший ID:
PACS: 76.30.- v
Посилання:
New possibility of retrospective EPR dosimetry / I. Vorona, S. Ishchenko, S. Okulov, T.T. Petrenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 2. — С. 219-222. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
Дата:
2000
Переглядів:
677
Завантажень:
338
Анотація:
Tooth enamel plates irradiated by different types of radiation were studied by electron paramagnetic resonance imaging with local gradient of magnetic field. The dependence of radiation defect distributions on an irradiation type was found. A new procedure of retrospective electron paramagnetic resonancedosimetry determining the irradiation type was proposed.
