Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
On problem of the rigorous diffraction quantitative description
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999, том 2
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999, № 4
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
On problem of the rigorous diffraction quantitative description
Інший ID:
PACS: 42.25.K
Посилання:
On problem of the rigorous diffraction quantitative description / S. Anokhov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 4. — С. 66-69. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
Підтримка:
The author is very grateful to Prof. A. Khizhiyak for fruitful discussions and for his constructive remarks.
Дата:
1999
Переглядів:
737
Завантажень:
354
Анотація:
New data showing an inaccuracy of Kirchhoff's description for the diffraction of the limited aperture light beams are presented. A series of the known experimental facts, which did not have an unequivocal interpretation within the framework of this theory, gains a simple explanation with passage to conceptions of the rigorous diffraction theory. The difficulties hindering the wide application of this theory for solving practical problems are considered as well.
