Сучков, Г.М.; Хащина, С.В.; Десятниченко, А.В.
(Техническая диагностика и неразрушающий контроль, 2013)
Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка
поверхности ...