Кудрик, Я.Я.; Шинкаренко, В.В.; Слепокуров, В.С.; Бигун, Р.И.; Кудрик, Р.Я.
(Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, 2014)
Приведен обзор методов определения высоты барьера Шоттки из результатов измерений вольт-амперных характеристик (ВАХ) применительно к широкозонным полупроводникам. Проведена апробация этих методов на примере диодов Шоттки ...