Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005, том 8
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2005, № 2
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy
Інший ID:
PACS: 78.30.L
Посилання:
Investigation of Al-ZERODUR interface by Raman and secondary ion mass spectroscopy / L.I. Berezhinsky, V.P. Maslov V.V. Tetyorkin and V.A.Yukhymchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2005. — Т. 8, № 2. — С. 37-40. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
Дата:
2005
Переглядів:
721
Завантажень:
437
Анотація:
The interface of ZERODUR ceramics and thin aluminium film was investigated by Raman and secondary ion mass-spectroscopy techniques. Possible chemical reactions at the interface is briefly analyzed and compared with experimental data. Contributions of amorphous and crystalline phases of ZERODUR to Raman spectra are discussed. Keywords: ZERODUR ceramics, Raman spectra, secondary ion mass-spectroscopy. Manuscript received 19.04.05; accepted for publication 18.05.05.
