Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, том 3
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2000, № 4
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
Інший ID:
PACS: 61.10.N, 68.65
Посилання:
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion / A.G. Fedorov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 4. — С. 554-557. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
Дата:
2000
Переглядів:
668
Завантажень:
394
Анотація:
Calculative method based on the Riccatti type differential equation was tested for simulation of low angle X-ray diffraction patterns from the one-dimensionally ordered multilayer. Some peculiarities of diffraction were revealed connected with asymmetrical distortion of the multilayer profile due to different processes on the layer boundaries.
