Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2001, том 4
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2001, № 4
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors
Інший ID:
PACS: 78.66
Посилання:
Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors / S.A. Kovalenko, M.P. Lisitsa // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2001. — Т. 4, № 4. — С. 352-357. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
Дата:
2001
Переглядів:
665
Завантажень:
441
Анотація:
The review comprises investigations devoted to determination of refractive index and absorption coefficient dependences on thickness for thin films of metals and atomic semiconductors.
It has been shown that erroneous results were obtained in many papers and correct interpretation of the latter is absent. The reason that braked the solution of the problem of dimensional optical phenomena in thin layer physics was ascertained.
