Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

Репозиторій DSpace/Manakin

Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис