Излучение комплексного электрического и магнитного диполей в присутствии идеально проводящего диска

Abstract

Представлена эффективная численно-аналитическая схема решения задачи дифракции электромагнитного поля заданных источников на бесконечно тонком идеально проводящем (ИП) диске. В основе схемы лежит метод аналитической регуляризации, который применен к нахождению решений связанных парных интегральных уравнений, возникающих при решении рассматриваемой задачи. В качестве заданных источников рассмотрены расположенные на оси диска комплексный электрический и магнитный диполи и комплексный элемент Гюйгенса. Приведены графики диаграммы направленности, а также графики зависимости мощности излучения рассматриваемых источников в присутствии ИП-диска от радиуса диска и расстояния до него.

Подано ефективну чисельно-аналітичну схему розв’язання задачі дифракції електромагнітного поля заданих джерел на нескінченно тонкому ідеально провідному (ІП) диску. За основу схеми узято метод аналітичної регуляризації, який застосований до знаходження рішень зв’язаних парних інтегральних рівнянь, що виникають при вирішенні розглядуваної задачі. Як задані джерела розглянуто розташовані на вісі диска комплексний електричний і магнітний диполі та комплексний елемент Гюйгенса. Наведено графіки діаграми спрямованості, а також графіки залежності потужності випромінювання розглядуваних джерел у присутності ІП-диска від радіуса диска і відстані до нього.

An efficient analytically-numerical scheme for solving the given time-harmonic electromagnetic wave scattering by a perfectly electrically conducting (PEC) zero-thickness disk is presented. It is based on the dual integral equations formulation and the method of analytical regularization which is applied for their solution. Complex electric and magnetic dipoles which are located on the axis of the disk and complex Huygens element are considered as sources of the incident field. Total field radiation pattern and normalized radiated power are presented for the various incident fields and geometries.