Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Сучков, Г.М.
dc.contributor.author Хащина, С.В.
dc.contributor.author Десятниченко, А.В.
dc.date.accessioned 2016-06-09T15:48:18Z
dc.date.available 2016-06-09T15:48:18Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.citation Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу / Г.М. Сучков, С.В. Хащина, А.В. Десятниченко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2013. — № 4. — С. 44-47. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 0235-3474
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/102006
dc.description.abstract Описана универсальная ЭМА приставка для стандартных УЗ дефектоскопов и толщиномеров. Прибор позволяет повысить выявляемость дефектов, увеличить производительность контроля, при этом не требуется специальная зачистка поверхности изделия. Приведены основные технические характеристики приставки и описание ее компонентов: блока управления (формирователя радиосигналов), силового усилителя (генератора зондирующих импульсов), предварительного усилителя с узкополосным фильтром, органов управления и отображения настроек. Приставка позволяет плавно регулировать основные параметры выходных сигналов: частоты в пакете возбуждения от 0,2 до 1,5 МГц, частоты следования от 40 Гц и до частоты, ограниченной подключенным дефектоскопом, количества периодов частоты заполнения в пакете от 1 до 10, выходную мощность от 0 до 100 %. Приставка имеет широкий спектр применения в комплексе с различными приборами и преобразователями практически любого типа, в том числе пьезоэлектрическими, что позволяет повысить чувствительность контроля. Показан пример применения прибора со стандартным серийным дефектоскопом при контроле волнами Рэлея цилиндрического образца на наличие поверхностных и подповерхностных дефектов. Показано, что на расстоянии до 1 м выявляются модели трещин глубиной от 0,2 мм и более. Приставка имеет малые габариты и массу, общее энергопотребление приставки составляет не более 15 Вт, что является определяющим критерием при использовании ее в полевых условиях. uk_UA
dc.description.abstract The paper describes an all-purpose EMA-attachment for standard UT flaw detectors and thickness meters. The instrument allows increasing defect detectability, and improving testing efficiency, without requiring any special cleaning of item surface. Main technical parameters of the attachment and description of its components are given. The attachment allows smooth adjustment of the main parameters of output signals: frequency in excitation pack from 0.2 up to 1.5 MHz, repetition rate from 40 Hz and up to frequency limited by the connected flaw detector, number of filling frequency periods in the pack from 1 up to 10 and output power from 0 up to 100%. The attachment has a broad application spectrum in a set with various instruments and transducers of practically any type, also piezo electric ones. The paper gives an example of instrument application with standard batchproduced flaw detector at testing of a cylindrical sample by Raleigh waves for surface and subsurface defects. It is shown that crack models of the depth from 0.2 mm and more are detected at up to 1 m distance. The attachment has small size and weight that is the determinant criterion for its application in the field. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Техническая диагностика и неразрушающий контроль
dc.subject Научно-технический раздел uk_UA
dc.title Малогабаритная ЭМА приставка к серийному ультразвуковому дефектоскопу uk_UA
dc.title.alternative Small-sized EMA attachment to batch-produced ultrasonic flaw detector uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 620. 179. 16: 620. 179. 17


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис