Методами сканирующей туннельной микроскопии атомного разрешения исследована субшероховатость поверхности аморфного металлического сплава Fe₈₂Si₄B₁₄ при нагреве до 700°C. Установлены температурные зависимости параметров Ra, Rq, Rzjis и Rz. Наблюдается немонотонная зависимость параметров субшероховатости от температуры. При температурах около 500°C наблюдается образование наноструктур правильной формы в виде стержней. По всей видимости, в условиях, далёких от равновесных, возможно образование иглоподобных нанокристаллов. В условиях почти полной кристаллизации при 700°C наблюдаются террасные структуры при некотором уменьшении параметров наношероховатости посредством образования практически ровных плоскостей более чем 200 нм.
Методами сканувальної тунельної мікроскопії атомарної роздільчої здатности досліджено субшерсткість поверхні аморфного металевого стопу Fe₈₂Si₄B₁₄ при нагріванні до 700°C. Встановлено температурні залежності параметрів Ra, Rq, Rzjis і Rz. Спостерігається немонотонна залежність параметрів субшерсткости від температури. При температурах близько 500°C спостерігається утворення наноструктур правильної форми у вигляді стрижнів. Очевидно, в умовах, далеких від рівноважних, можливе утворення голкоподібних нанокристалів. В умовах майже повної кристалізації при 700°C спостерігаються терасові структури при деякому зменшенні параметрів наношерсткости через формування практично рівних площин, більших за 200 нм.
Using of atomic-resolution scanning tunnelling microscopy method, the surface subroughness of the amorphous metallic Fe₈₂Si₄B₁₄ alloy upon heating to 700°C is studied. The temperature dependences of the parameters Ra, Rq, Rzjis and Rz are determined. For temperatures of about 500°C, the correct-form rod-shaped nanostructures are observed. Apparently, in conditions far from equilibrium, the needle-shaped nanocrystals can be formed. In almost complete crystallization at 700°C, the hill-and-valley structures are observed, with some reduction parameters of nanoroughness by means of the formation of practically plane surfaces of over 200 nm.