Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів

Abstract

Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів.

Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его поиска с учетом внешних факторов.

The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined. Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well as to localize its search area taking into account external factors.