Разработана светосильная рентгенооптическая схема измерений комптоновского рассеяния с применением флуоресцентного источника излучения и рентгеновской трубки с прострельным анодом. В стандартных образцах низколегированной стали выявлено монотонное смещение (в пределах 70 эВ) комптоновского пика в сторону рэлеевского по мере увеличения содержания углерода от 0,03 до 1,1 мас.%. Величина смещения может служить количественным критерием содержания легкой примеси в тяжелой матрице.
Розроблена світосильна рентгенооптична схема вимірювань комптонівського розсіювання із
застосуванням флуоресцентного джерела випромінювання та рентгенівської трубки з прострільним анодом.
В стандартних зразках низьколегованої сталі виявлено монотонне зміщення (у межах 70 еВ)
комптонівського піку у бік релеївського з підвищенням вмісту вуглецю від 0,03 до 1,1 мас.%. Величина
зміщення може служити кількісним критерієм вмісту легкої домішки у важкий матриці.
Luminous powerful X-ray optic scheme with fluorescent source and X-ray tube with transmitted target for Compton
scattering have been worked out. In standard samples of low-alloy steel, monotonic shift (about 70 eV) of Compton
peak to Reyleigh peak side with carbon concentration increase from 0.03 to 1.1 wt.% was revealed. The shift value
may be considered a quantitative criterion of light impurity content in heavy matrix.