It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation
emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few
units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of
the explanation is suggested.
У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики
рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що
рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної
густини, розбіжності і лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох
одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що
спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі.
Пропонується експеримент для перевірки цього пояснення.
В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные
частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения
спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от
нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на
поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения.