dc.contributor.author |
Решетняк, М.В. |
|
dc.contributor.author |
Соболь, О.В. |
|
dc.date.accessioned |
2010-04-20T12:55:42Z |
|
dc.date.available |
2010-04-20T12:55:42Z |
|
dc.date.issued |
2008 |
|
dc.identifier.citation |
Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1999-8074 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7885 |
|
dc.description.abstract |
Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор аппроксимирующей функции с последующим ее использованием в случае необходимости разделения сложного профиля накладывающихся дифракционных пиков, а также удобную для использования электронную базу сравнения. Выявлено, что в конденсатах квазибинарной системы W2B5-TiB2 при отношении Ti/W < 0,5 формируется двухфазное состояние, где помимо твердого раствора (W,Ti)B2 присутствует вторая І-WB фаза с меньшим содержанием бора по сравнению с распыляемой диборидной мишенью. Показано, что с увеличением толщины конденсата происходит повышение структурного совершенства формирующихся кристаллитов, выражающееся в увеличении их среднего размера и уменьшении величины микродеформации решетки. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Для обробки результатів рентгендифрактометричних досліджень нанокристалічних іонноплазмових конденсатів квазібінарної W2B5-TiB2 системи запропоновано використовувати програмний пакет, що включає комплекс засобів попередньої обробки дифракційних спектрів, зручну для використання електронну базу порівняння, а також дозволяє робити вибір апроксимуючої функції з наступним її використанням у випадку необхідності поділу складного профілю дифракційних піків, що накладаються. Виявлено, що у конденсатах квазібінарної системи W2B5-TiB2 при відношенні Ti/W <0,5 формується двохфазний стан, де крім твердого розчину (W,Ti)B2 присутня друга β-WB фаза з меншим вмістом бору у порівнянні з диборідною мішенню, що розпилюється. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
For treatment of X-ray diffraction results on ionplasma W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensates, the program package was proposed including both a complex of means for diffraction spectra preliminary treatment allowing selection of approximation function applied, if necessary, for resolution of complex profile with overlaid diffraction peaks, and easy-to-use electronic bases of comparison. In W2B5-TiB2 quasi-binary condensates with Ti/W <0.5, the formation of two-phase state was revealed, where besides (W,Ti)B2 solid solution, the second β-WB phase exists with less boron content comparing to sputtered diboride target. It was shown, with increasing condensate thickness, structure perfection is improved that manifested both in growing crystallite average size and decreasing lattice micro-strain. |
uk_UA |
dc.language.iso |
ru |
uk_UA |
dc.publisher |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
uk_UA |
dc.title |
Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Розширення можливостей аналізу структури та субструктурних характеристик нанокристалічних конденсованих і масивних матеріалів квазібінарної системи W2B5-tib2 при використанні програми обробки рентгендифракційних даних “New_profile” |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-tib2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of “New_profile” soft-ware for x-ray diffraction data treatment |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
dc.identifier.udc |
538.91:548.73: 539.234 |
|