Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Bigun, R.I.
dc.contributor.author Kunitsky, Yu.A.
dc.contributor.author Stasyuk, Z.V.
dc.date.accessioned 2014-12-23T21:03:03Z
dc.date.available 2014-12-23T21:03:03Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1816-5230
dc.identifier.other PACS numbers: 72.10.Fk, 73.23.Ad, 73.50.Bk, 73.61.At, 85.40.Xx
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/72472
dc.description.abstract The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models. uk_UA
dc.description.abstract Обговорено проблему створення надтонких (товщина шару від 2 нм до 50 нм) електрично суцільних стабільних провідних шарів металів і вивчення їхніх електричних властивостей. Розглянуто можливість застосування сурфактантних підшарів для запобігання коаґуляції зародків кристалізації в процесі росту плівок. Здійснено аналізу сучасного стану модельних уявлень про перенесення заряду в металевих зразках обмежених розмірів, і на його основі проведено трактування результатів експериментального дослідження надтонких металевих плівок. uk_UA
dc.description.abstract Обсуждается проблема создания сверхтонких (толщина слоя от 2 нм до 50 нм) электрически сплошных проводящих стабильных слоев металлов и исследования их электрических свойств. Рассмотрена возможность применения сурфактантных подслоев для предотвращения коагуляции зародышей кристаллизации в процессе роста пленок. Сделан анализ современного состояния модельных представлений о переносе заряда в металлических образцах ограниченных размеров, и на его основе проведена трактовка результатов экспериментального исследования сверхтонких металлических пленок. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
dc.title A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис