Пилипів, В.М.; Коцюбинський, В.О.; Гарпуль, О.З.; Гасюк, І.М.
(Физическая инженерия поверхности, 2014)
Представлены результаты анализа поверхности имплантированных ионами Si⁺ с дозой 5•10¹³ см⁻² и энергиями 100—150 кеВ пленок железно-иттриевого ґраната, полученные с помощью рентґеновской фотоэлектронной спектроскопии, ...