На примере отработки методики рентгеновского микроанализа геологических объектов (кизерит, импактит) и
искусственных материалов (оптоволокно) рассмотрены общие подходы при исследовании образцов, нестабильных
под электронным зондом.
На прикладі відпрацювання методики рентгенівського мікроаналізу геологічних об’єктів (кізерит, імпактит) і штучних
матеріалів (оптоволокно) розглянуті загальні підходи при дослідженні зразків, нестабільних під електронним зондом.
The main approaches for investigation of samples, unstable under electron beam, have been considered at exhample of
x-ray microanalysis methodology development of geological (kieserite, impact structure) and synthetic samples (amorphous
glass).