Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами
Інші назви:
Дослідження власних та домішкових точкових дефектів в сапфірових підкладинках люмінесцентними методами
Study proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methods
Study proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methods
Тема:
Материалы электроники
Посилання:
Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.
Дата:
2006
Переглядів:
1144
Завантажень:
1456
Анотація:
Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.
