Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

Попов, В.М. ; Клименко, А.С. ; Поканевич, А.П.

Інші назви: Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки
Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices

Тема: Технологические процессы и оборудование

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52430

Посилання: Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Дата: 2008

Завантажень: 600

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

Анотація:

Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.

Показати повний запис статті