Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Новосядлый, С.П.
dc.contributor.author Вивчарук, В.М.
dc.date.accessioned 2013-12-26T23:58:36Z
dc.date.available 2013-12-26T23:58:36Z
dc.date.issued 2009
dc.identifier.citation Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием / С.П. Новосядлый, В.М. Вивчарук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 3. — С. 35-39. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 2225-5818
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52062
dc.description.abstract Разработана технология горизонтальной и вертикальной изоляции элементов БИС на основе пористого кремния, исследована возможность его использования для формирования МОП-транзисторов. uk_UA
dc.description.abstract Надтонкі функціональні шари МОН-транзисторів вимагають якісної ізоляції активних елементів. Запропоновано новий метод формування епітаксійних структур для технології «кремній-на-ізоляторі» на основі пористого кремнію. Це дозволить формувати три види транзисторів - біполярні, КМОН, ДМОН.· uk_UA
dc.description.abstract The superthin functional layers of MOS-transistors require qualitative isolation of active elements. The new method of formation of epitaksial structures for technology «silicon - on-isolator» is offered on the basis of porous silicon. It will allow to form three kinds of transistors - bipolar, SMOS, DMOS. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject Технологические процессы и оборудование uk_UA
dc.title Формирование МОП-транзисторов с изоляцией активных элементов окисленным пористым кремнием uk_UA
dc.title.alternative Формування МОН-транзисторів з ізоляцією активних елементів окисленим пористим кремнієм uk_UA
dc.title.alternative Formation of MOS-transistors with isolation of active elements by oxiden porous silicon uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис