Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення інформатики
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи, 2012
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи, 2012, № 11
→
Переглянути статтю

Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур

Лебедева, Т.С. ; Озеров, М.В. ; Шпилевой, П.Б.

Інші назви: Modeling and investigation of thin-film structures interface

УДК: 539.23;538.91:621

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/46500

Посилання: Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур / Т.С. Лебедева, М.В. Озеров, П.Б. Шпилевой // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2012. — № 11. — С. 157-164. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Дата: 2012

Завантажень: 794

Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур

Анотація:

Представлена модель переходного слоя тонкопленочных структур, позволяющая производить расчет его толщины по профилям анодирования. Разработана программа расчета и приведены результаты расчета для структуры Nb-Al-Nb.

Представлено модель перехідного шару тонкоплівкових структур, що дозволяє проводити розрахунки його товщини за профілями анодування. Розроблено програму для розрахунків та приведені результати розрахунків для структури Nb-Al-Nb.

The model of interface of thin-film structures that allows to produce calculations of it’s thickness using anodization profiles as the developed software and results for structure Nb-Al-Nb are represented.

Показати повний запис статті