Изложены результаты исследования температуры плавления в двух- и многослойных
пленочных системах эвтектического типа большой толщины (~400 нм) на примере системы
Bi-Sn. Эксперименты, проведенные с многослойными (каждый слой по 10-20 нм) и
двухслойными системами (слои ~200 нм) одинаковой общей толщины, показали
понижение температуры плавления в многослойных системах по сравнению с
двухслойными. На основе термодинамического анализа установлено, что обнаруженное в
слоистых пленочных системах понижение температуры эвтектического плавления
определяется общей толщиной двух контактирующих пленок и энергией их границ.------------------
Викладено результати дослідження температури плавлення дво- та багатошаро-
вої плівкових систем евтектичного типу великої товщини (~400 нм) на прикладі системи
Bi-Sn. Експерименти, що проведені з багатошаровими (кожен шар по 10-20 нм) і дво-
шаровими системами (шари ~200 нм) однакової спільної товщини, показали зниження
температури плавлення в багатошарових системах в порівнянні з двошаровими. На основі
термодинамічного аналізу показано, що встановлене зниження температури евтектичного
плавлення визначається загальною товщиною двох тонких контактуючих плівок та
енергією їх границь.-------------------------
This article presents results of the investigation of the melting processes in thick (400 nm) Bi¾Sn
eutectic bi- and multi-layer systems. Measurements of multilayer system (layer thickness 10-
20 nm) and bilayer system (layers thickness 200 nm) of similar total sickness have demonstrated
that eutectic melting temperature for a multiplayer system is lower than for a bilayer system.
Thermodynamic analysis has shown that temperature reduction depends on total thickness of the
neighboring layers and layers boundary energy.
