Недзьведь, А.М.; Абламейко, С.В.; Недзьведь, О.В.
(Штучний інтелект, 2011)
В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой
микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой
формой. Данный ...