Анотація:
Методом наноиндентирования исследована специфика перехода от упругого к упругопластическому деформированию в бездефектных монокристаллах при локализации деформации в субмикронной области. Для испытанных монокристаллов на глубинах около 20—50 нм наблюдали резкий переход от упругой к упругопластической деформации. Для нахождения предела текучести по данным наноиндентирования использован анализ напряженно-деформированного состояния в области контакта. Показано, что предел текучести в субмикрообъемах монокристаллов в десятки-сотни раз превосходит их предел текучести на макроскопическом уровне и приближается к величине теоретического предела упругости на сдвиг. В рамках феноменологической модели зарождения дислокаций обсуждается механизм перехода от упругого к упругопластическому деформированию. Показано, что переход вызван гомогенным зарождением дислокаций в контакте.