Проведен расчет и построены карты распределения электронной плотности (ЭП) ячеек кристаллов
Y³⁺ YBa₂Cu₃O₇ и Рг⁴⁺ YBa₂Cu₃O₇ . Показано, что замена иона Y³⁺ ионом Рг⁴⁺ приводит к деформации
распределения ЭП вблизи СиO₂-плоскостей. Сделано предположение, что сверхпроводящий ток протекает в
двумерных слоях минимальной ЭП.
Проведено разрахунок та побудовано карти розподілу електронної густини (ЕГ) элементарних комірок
кристалів у Y³⁺ YBa₂Cu₃O₇ та Рг⁴⁺ YBa₂Cu₃O₇ . Показано, що заміна іона Y³⁺ іоном Рг⁴⁺ деформує розподіл
ЕГ поблизу СиO₂ -площини. Зроблено припущення, що надпровідний струм тече у двовимірних шарах міні
мальної ЕГ.
The electron density distribution of the cells of
Y³⁺ YBa₂Cu₃O₇ and Рг⁴⁺ YBa₂Cu₃O₇ is calculated and
mapped. It is shown that the substitution of Y³⁺ ion by
Рг⁴⁺ ion deforms the electron density distribution in the
vicinity of the СиO₂ planes. It is supposed, that super
current flows in two-dimensional layers of the lowest
electron density.