Исследованы микромостики, сформированные в эпитаксиальных пленках YBa₂Cu₃O₇₋x. На характеристиках микромостиков наблюдалась субгармоническая щелевая структура при напряжениях, соответствующих большей (2Δ1 = 49 мэВ), а также меньшей (2Δ2 = 10,3 мэВ) компонентам энергетической щели при Т ≈ 4,2 К. Появление субгармонической структуры связывается с андреевским отражением.
Досліджено мікромістки, які сформовани в епітаксіальних плівках YBa₂Cu₃O₇₋x. На характеристиках мікромістків спостерігалась субгармонійна щільова структура при напругах, відповідних більшої (2Δ1 = 49 меВ), а також меншої (2Δ2 = 10,3 меВ) компонентам енергетичної щілини при Т = 4,2 К. Появлення субгармонійної структури пов’язано з андріївським відбиттям.
The microbridges formed in thin epitaxial YBa₂Cu₃O₇₋x films were investigated. The characterictics of the microbridges exhibited subharmonic gap structures corresponding to large (2Δ1 = 49 meV) and small (2Δ2 = 10.3 meV) components of the energy gap at T = 4.2 K. The appearance of the subharmonic gap structures is attributed to the phenomenon of Andreev reflection.