Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Физика и техника высоких давлений
→
Физика и техника высоких давлений, 2003 (том 13)
→
Физика и техника высоких давлений, 2003, № 3
→
Переглянути статтю

Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии

Ивченко, В.А. ; Эфрос, Б.М. ; Попова, Е.В. ; Эфрос, Н.Б. ; Лоладзе, Л.В.

Інші назви: Польова іонна мікроскопія металів при інтенсивному зовнішньому впливі
Field ionic microscopy of metals under severe external influences

Інший ID: PACS: 61.16.Fk, 81.40.Vw, 68.55.Ln

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168012

Посилання: Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии / В.А. Ивченко, Б.М. Эфрос, Е.В. Попова, Н.Б. Эфрос, Л.В. Лоладзе // Физика и техника высоких давлений. — 2003. — Т. 13, № 3. — С. 109-116. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Дата: 2003

Завантажень: 115

Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии

Анотація:

Представлены результаты оригинальных исследований изменений атомно-пространственной структуры различных металлов после интенсивных внешних воздействий (ИВВ), выполненные с помощью метода полевой ионной микроскопии (ПИМ).

The represented are the results of original studies of changes in the atomic-spatial structure of different metals after severe external influences. The field ionic microscopy method was used.

Показати повний запис статті