Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Перегляд Технология и конструирование в электронной аппаратуре за темою "Оптоэлектроника"

Репозиторій DSpace/Manakin

Перегляд Технология и конструирование в электронной аппаратуре за темою "Оптоэлектроника"

Сортувати за: Порядок: Результатів:

  • Корнейчук, В.И.; Рогалевич, О.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Экспериментально исследованы фотоприемные устройства импульсных ИК-сигналов на основе кремниевого p—i—n-фотодиода и операционного усилителя, в цепь обратной связи которого включен "искусственный" резистор, обладающий меньшей ...
  • Колежук, К.В.; Комащенко, В.Н.; Шереметова, Г.И.; Бобренко, Ю.Н. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Показана применимость некоторых гетероструктурных концепций к поликристаллическим объектам на основе решеточно-несогласованных соединений А²В⁶ и перспективность таких многослойных гетероструктур для разработки фотоэлектрических ...
  • Головко, А.Г. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Обсуждается влияние длины световых волн на стабильность смещения фоторезисторов. Показано, что существует узкая область, в которой спонтанные флуктуации падения напряжения на фоторезисторе существенно возрастают.
  • Ваксман, Ю.Ф.; Сантоний, В.И.; Янко, В.В.; Иванченко, И.А.; Будиянская, Л.М. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Рассмотрено применение в оптико-электронной дальнометрии фазового метода измерения малых дистанций. Определена аналитическая зависимость точности измерений от динамики измерительной системы. Рассчитаны частотные характеристики ...
  • Ащеулов, А.А.; Охрем, В.Г. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004)
    Предложены выражения для расчета характеристик и конструкция приемника, не искажающего амплитудно-фазовые характеристики проходящего лучистого потока.
  • Терлецкая, Л.Л.; Калиниченко, Л.Ф.; Голубцов, В.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Проведен сравнительный анализ спектров фотолюминесценции гетероэпитаксиальных слоев n-GaAs и спектральных характеристик структур p⁺-Si—n-Si—p-Si—n⁺-GaAs. Слои GaAs выращивались на Si-подложках методом жидкофазной эпитаксии ...
  • Ащеулов, А.А.; Бутенко, В.К.; Докторович, И.В.; Дунаенко, А.Х.; Фотий, В.Д. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004)
    Приведены конструкция и характеристики разработанного УФ-радиометра для спектрального диапазона 300...400 нм с неравномерностью спектральной чувствительности не выше 5%.
  • Викулин, И.М.; Курмашев, Ш.Д.; Сидорец, Р.Г.; Туманов, Ю.Г. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Изложен физический механизм внутреннего усиления фототока в p-n-переходе с длинной базой, на боковой поверхности которой создан полевой МДП-электрод. Совместное действие нескольких механизмов усиления увеличивает ...
  • Ковалюк, З.Д.; Махний, В.П.; Янчук, А.И. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Анализируются электрические и фотоэлектрические свойства выпрямляющих структур различного типа (поверхностно-барьерные диоды, p—n-гомопереходы и гетеропереходы) на базе моноселенидов галлия и индия. Обсуждается влияние ...

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис