Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Молодкин, В.Б.
dc.contributor.author Низкова, А.И.
dc.contributor.author Богданов, Е.И.
dc.contributor.author Дмитриев, С.В.
dc.contributor.author Лизунов, В.В.
dc.contributor.author Скакунова, Е.С.
dc.contributor.author Толмачев, Н.Г.
dc.contributor.author Василик, Я.В.
dc.contributor.author Карпов, А.Г.
dc.contributor.author Войток, О.Г.
dc.contributor.author Почекуев, В.П.
dc.date.accessioned 2018-05-21T14:09:54Z
dc.date.available 2018-05-21T14:09:54Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.citation Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, Е.И. Богданов, С.В. Дмитриев, В.В. Лизунов, Е.С. Скакунова, Н.Г. Толмачев, Я.В. Василик, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуев // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2017. — Т. 15, № 2. — С. 261-275. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 1816-5230
dc.identifier.other PACS: 61.05.C-, 61.72.Dd, 61.72.J-, 62.82.Fk, 68.35.Ct, 81.07.-b, 85.40.-e
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133185
dc.description.abstract Разработан и реализован практически на основе использования обнаруженных эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции подход для неразрушающей диагностики профиля неоднородного распределения микродефектов в монокристаллах. В частности, впервые получен профиль распределения микродефектов (преципитатов и дислокационных петель без ограничений на их размеры) по глубине динамически рассеивающего слоя монокристалла, а также показана принципиальная возможность и фактически определена кинетика изменения его сложной структуры после обработки высокоэнергетическими электронами. uk_UA
dc.description.abstract Розроблено і реалізовано практично на основі використання виявлених ефектів асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції підхід для неруйнівної діягностики профілю неоднорідного розподілу мікродефектів у монокристалах. Зокрема, вперше одержано профіль розподілу мікродефектів (преципітатів і дислокаційних петель без обмежень на їхні розміри) за глибиною динамічного розсіювального шару монокристалу, а також показано принципову можливість і фактично визначено кінетику зміни його складної структури після оброблення високоенергетичними електронами. uk_UA
dc.description.abstract Based on the use of observed effects of the asymmetry of an azimuthal dependence of a total integrated intensity of a dynamical diffraction, approach is developed and practically implemented for the non-destructive diagnostics of a profile of the inhomogeneous distribution of microdefects in single crystals. In particular, for the first time, the distribution profile for microdefects (precipitates and dislocation loops without restrictions on their sizes) over a depth of dynamically scattering layer of a single crystal is obtained. A principal possibility of kinetics determination is shown, and the kinetics of changing of such layer complex structure after high-energy electron processing is actually determined. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
dc.title Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем uk_UA
dc.title.alternative Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис