Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: accuracy consideration
Репозиторій DSpace/Manakin
Вхід
|
Допомога
Статистика
Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
→
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999, том 2
→
Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999, № 2
→
Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999, № 2
[18]
Пошук
Пошук
Ця колекція
Розширений пошук
Перегляд
Вся бібліотека
Розділи і Колекції
За датою випуску
Автори
Назви
Теми
Колекція
За датою випуску
Автори
Назви
Теми
Мій обліковий запис
Логін
Реєстрація