Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Electroluminescent properties of Tb-doped carbon-enriched silicon oxide

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Tiagulskyi, S.I.
dc.contributor.author Nazarov, A.N.
dc.contributor.author Gordienk, S.O.
dc.contributor.author Vasin, A.V.
dc.contributor.author Rusavsky, A.V.
dc.contributor.author Nazarova, T.M.
dc.contributor.author Gomeniuk, Yu.V.
dc.contributor.author Rudko, G.V.
dc.contributor.author Lysenko, V.S.
dc.contributor.author Rebohle, L.
dc.contributor.author Voelskow, M.
dc.contributor.author Skorupa, W.
dc.contributor.author Koshka, Y.
dc.date.accessioned 2017-05-30T05:29:27Z
dc.date.available 2017-05-30T05:29:27Z
dc.date.issued 2014
dc.identifier.citation Electroluminescent properties of Tb-doped carbon-enriched silicon oxide / S.I. Tiagulskyi, A.N. Nazarov, S.O. Gordienko, A.V. Vasin, A.V. Rusavsky, T.M. Nazarova, Yu.V. Gomeniuk, V.S. Lysenko, L. Rebohle, M. Voelskow, W. Skorupa, Y. Koshka // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2014. — Т. 17, № 1. — С. 34-40. — Бібліогр.: 30 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS 72.20.-i, 73.40.-c, 78.60.Fi, 81.15.Cd
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118346
dc.description.abstract An electroluminescent device utilizing a heterostructure of amorphous terbium doped carbon-rich SiOx (a - SiOx : C : Tb) on silicon has been developed. The a - SiOx : C : Tb active layer was formed by RF magnetron sputtering of a - SiO₁₋x : Cx : H(:Tb) film followed by high-temperature oxidation. It was shown that, depending on the polarity of the applied voltage, the electroluminescence is either green or white, which can be attributed to different mechanisms of current transport through the oxide film – space charge limited bipolar double injection current for green electroluminescence and trap assisted tunneling or Fowler-Nordheim tunneling for white electroluminescence. uk_UA
dc.description.sponsorship We would like to appreciate Dr. Yu. Ishikawa (Japan Fine Ceramic Center, Nagoya, Japan) and Prof. Sh.Muto (Nagoya University, Japan) for the opportunity of FTIR and EELS measurements. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Electroluminescent properties of Tb-doped carbon-enriched silicon oxide uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис