Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий

Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий

Інші назви: Підготовка зразків для просвічуючої та скануючої електронної мікроскопії: нові установки від Leica Microsystems для нанесення покриттів
Sample Preparation for TEM and FESEM: New Generation Coaters from Leica Microsystems

Тема: Світ інновацій

Інший ID: DOI: doi.org/10.15407/scin10.02.055

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114963

Посилання: Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий / С.В. Немова // Наука та інновації. — 2014. — Т. 10, № 2. — С. 55-60. — рос.

Дата: 2014

Завантажень: 1433

Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий

Анотація:

Представлена информация о новых настольных установках от Leica Microsystems для нанесения токопроводящих покрытий в вакууме. Представлена информация о технических характеристиках и области использования данных установок.

Надана інформація про нові настільні установки від Leica Microsystems для нанесення струмопровідних покриттів в вакуумі. Представлена інформація про технічні характеристики та область застосування таких установок.

The article informs about new desktop coaters for ap p lication of conductive layers in vacuum from Leica Mic ro systems. There are information about technical data and field of application of the coaters.

Показати повний запис статті