Specular and diffusive reflectance of stainless steel mirrors sputtered with Ar⁺ ions

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення ядерної фізики та енергетики
→
Вопросы атомной науки и техники
→
Bопросы атомной науки и техники, 2012
→
Вопросы атомной науки и техники, 2012, № 6
→
Переглянути статтю

Specular and diffusive reflectance of stainless steel mirrors sputtered with Ar⁺ ions

Konovalov, V.G. ; Bondarenko, V.N. ; Ryzhkov, I.V. ; Shapoval, A.N. ; Shtan’, A.F. ; Skoryk, O.O. ; Solodovchenko, S.I. ; Voitsenya, V.S.

Інші назви: Измерение зеркального и диффузного компонентов коэффициента отражения при распылении стальных зеркал ионами Ar⁺
Вимірювання дзеркального та дифузного компонентів коефіцієнта відбиття при розпиленні сталевих дзеркал іонами Ar⁺

Тема: Динамика плазмы и взаимодействие плазмы со стенкой

Інший ID: PACS: 78.20.Ci; 79.20.Rf; 81.40.Tv

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/109144

Посилання: Specular and diffusive reflectance of stainless steel mirrors sputtered with Ar⁺ ions / V.G. Konovalov, V.N. Bondarenko, I.V. Ryzhkov, A.N. Shapoval, A.F. Shtan’, O.O. Skoryk, S.I. Solodovchenko, V.S. Voitsenya // Вопросы атомной науки и техники. — 2012. — № 6. — С. 114-116. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

Дата: 2012

Завантажень: 383

Specular and diffusive reflectance of stainless steel mirrors sputtered with Ar⁺ ions

Анотація:

It was shown that a light source with edge sharpness can be used for very sensitive measurements of the ratio of specular and diffusive components of reflectance of the mirror subjected to sputtering.

Измерение изображения резко очерченного источника света, отраженного от зеркала (IQ-метод), является очень чувствительным методом регистрации соотношения зеркального и диффузного компонентов коэффициента отражения при распылении испытуемых образцов.

Вимірювання зображення різко окресленого джерела світла, відбитого від дзеркала (IQ-метод), є дуже чутливим методом реєстрації співвідношення дзеркального та дифузного компонентів коефіцієнта відбиття при розпиленні випробовуваних зразків.

Показати повний запис статті